国立大学法人東北大学研究推進・支援機構 テクニカルサポートセンター 設備・機器利用システム

登録研究設備・機器

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部局別

研究設備・機器

電子顕微鏡・EPMA・FIB

[029] 三次元微小構造解析システム 〔リンク〕

JEM-ARM200F(UHR)(日本電子)、 JIB-4600F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕

[056] 電子ビーム蛍光X線解析システム②

電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600(日立)〔設置部局:電気通信研究所〕

[057] 電子ビーム蛍光X線解析システム③

X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M(リガク)〔設置部局:電気通信研究所〕

[072] 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

JXA8530F(日本電子)〔設置部局:産学連携先端材料研究開発センター〕

[085] サブオングストローム電子顕微鏡 〔リンク〕

FEI(株) Titan80-300〔設置部局:研究推進・支援機構〕

[086] 低加速高分解能走査電子顕微鏡 〔リンク〕

日立SU8000〔設置部局:研究推進・支援機構〕

[088] 透過電子顕微鏡

H-7650(日立)〔設置部局:農学研究科〕

[089] 走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付) 

SU8000(EDAX)(日立)〔設置部局:農学研究科〕

[097] 高分解能走査型電子顕微鏡

高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形(日立)〔設置部局:電気通信研究所〕

[099] 多種試料観察用走査電子顕微鏡システム

JSM-7800F(日本電子)〔設置部局:産学連携先端材料研究開発センター〕

[111] イオンビーム加工解析装置

N-Vision40(Carl Zeiss Microscopy) トリプルビーム方式 〔設置部局:電気通信研究所〕

[130] 透過型電子顕微鏡(FE-TEM)

JEM-2100F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕

[131] 走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)

JSM-7100F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕

[193] 2光子励起顕微鏡システム

フェムト秒の繰り返し可能レーザーおよび共焦点機能(Leica Microsystems)〔設置部局:イノベーション戦略推進センター〕

[222] 共焦点・超解像顕微鏡システム 〔リンク〕

ニコン 超解像/共焦点顕微鏡N-SIM+A1セット〔設置部局:医学系研究科〕

[239] 超高分解能分析走査型電子顕微鏡 一式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ SU-70形〔設置部局:工学研究科〕

[259] SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式 〔リンク〕

日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ・ナノテクノロジー)  SMI500〔設置部局:工学研究科〕

[274] リアルサーフェスビュー顕微鏡 一式

キーエンス VE-9800SP2079〔設置部局:工学研究科〕

[294] 分析走査電子顕微鏡

日本電子 JSM-6610A(OIM結晶方位解析装置含む)〔設置部局:金属材料研究所〕

[331] 走査型電子顕微鏡 1式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ SU-70、S-3400N、EDX〔設置部局:未来科学技術共同研究センター〕

[337] 超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕

FEI Titan G2 60-300型〔設置部局:研究推進・支援機構〕

[384] Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム

FEI〔設置部局:工学研究科〕

[526] 分析走査電子顕微鏡

日本電子 JSM-IT200(A) 〔設置部局:金属材料研究所〕

[536] 走査電子顕微鏡(JSM-6390LA)

日本電子 JSM-6390LA〔設置部局:歯学研究科〕

[547] 分析走査電子顕微鏡

日本電子 JSM-6010PLUS/LA〔設置部局:金属材料研究所〕

[548] 分析透過電子顕微鏡 〔リンク〕

TOPCON EM-002B〔設置部局:金属材料研究所〕

[549] 透過電子顕微鏡 〔リンク〕

日本電子 JEM-2000EX II〔設置部局:金属材料研究所〕

[550] 原子分解能分析電子顕微鏡 〔リンク〕

日本電子 JEM-ARM200F〔設置部局:金属材料研究所〕

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