登録研究設備・機器
種類別
キャンパス別
部局別
研究設備・機器
電子顕微鏡・EPMA・FIB
JEM-ARM200F(UHR)(日本電子)、 JIB-4600F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕
電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600(日立)〔設置部局:電気通信研究所〕
X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M(リガク)〔設置部局:電気通信研究所〕
JXA8530F(日本電子)〔設置部局:産学連携先端材料研究開発センター〕
FEI Titan80-300〔設置部局:研究推進・支援機構〕
日立SU8000〔設置部局:研究推進・支援機構〕
[087] 組織構造解析装置 バイオマテリアル用電子顕微鏡 透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕
日本電子 JEM-1400〔設置部局:医学系研究科〕
H-7650(日立)〔設置部局:農学研究科〕
SU8000(EDAX)(日立)〔設置部局:農学研究科〕
高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形(日立)〔設置部局:電気通信研究所〕
JSM-7800F(日本電子)〔設置部局:産学連携先端材料研究開発センター〕
N-Vision40(Carl Zeiss Microscopy) トリプルビーム方式 〔設置部局:電気通信研究所〕
JEM-2100F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕
[131] 走査型電子顕微鏡・結晶方位解析(FE-SEM/EBSD)
JSM-7100F(日本電子)〔設置部局:工学研究科〕
ニコン 超解像/共焦点顕微鏡N-SIM+A1セット〔設置部局:医学系研究科〕
[239] 超高分解能分析走査型電子顕微鏡 一式 〔リンク〕
日立ハイテクノロジーズ SU-70形〔設置部局:工学研究科〕
[246] 日本電子(株)製 サーマル電界放出形走査電子顕微鏡 〔リンク〕
JEOL JSM-7800F〔設置部局:工学研究科〕
[259] SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式 〔リンク〕
日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ・ナノテクノロジー) SMI500〔設置部局:工学研究科〕
日本電子 JSM-6610A(OIM結晶方位解析装置含む)〔設置部局:金属材料研究所〕
日立ハイテクノロジーズ S-5200〔設置部局:流体科学研究所〕
日立ハイテク SU-70(EDS・EBSD付属)、S-3400N、IM-4000〔設置部局:未来科学技術共同研究センター〕
[337] 超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕
FEI Titan G2 60-300型〔設置部局:研究推進・支援機構〕
[384] Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム
FEI〔設置部局:工学研究科〕
日本電子 JSM-IT200(A) 〔設置部局:金属材料研究所〕
日本電子 JSM-6390LA〔設置部局:歯学研究科〕
日本電子 JSM-6010PLUS/LA〔設置部局:金属材料研究所〕
TOPCON EM-002B〔設置部局:金属材料研究所〕
日本電子 JEM-2000EX II〔設置部局:金属材料研究所〕
日本電子 JEM-ARM200F〔設置部局:金属材料研究所〕
日本電子 JSM-7401F [設置部局:電気通信研究所]
日立ハイテク・FB2100〔設置部局:金属材料研究所〕
日立 S-5500形〔設置部局:理学研究科〕
日本電子 JEM-1400plus〔設置部局:生命科学研究科〕
島津製作所 EPMA-1720HT〔設置部局:工学研究科〕
日立ハイテク HD2700〔設置部局:工学研究科〕
日立ハイテク S-4800〔設置部局:工学研究科〕
日立ハイテク TM3000〔設置部局:工学研究科〕
JEM-3300〔設置部局:多元物質科学研究所〕
日本電子 JEM-3300 CRYOARM300Ⅱ [設置部局:未来型医療創成センター(東北メディカル・メガバンク機構)]
日本電子 JSM7800, Oxford X-Max〔設置部局:材料科学高等研究所〕
日本電子 JCM-7000(EDS,ステージナビゲーションシステム含む) 〔設置部局:学術資源研究公開センター〕
[752] 集束イオンビーム加工装置 (Versa 3D) 〔リンク〕
Thermo Fisher Scientific〔設置部局:金属材料研究所〕
[751] 集束イオンビーム加工装置 (Quanta 3D) 〔リンク〕
Thermo Fisher Scientific〔設置部局:金属材料研究所〕