[029] 三次元微小構造解析システム 〔リンク〕

JEM-ARM200F(UHR)(日本電子)､ JIB-4600F(日本電子)〔設置部局：工学研究科〕

[056] 電子ビーム蛍光Ｘ線解析システム②

電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600(日立)〔設置部局：電気通信研究所〕

[057] 電子ビーム蛍光Ｘ線解析システム③

X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M(リガク)〔設置部局：電気通信研究所〕

[072] 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

JXA8530F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[085] サブオングストローム電子顕微鏡 〔リンク〕

FEI Titan80-300〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[086] 低加速高分解能走査電子顕微鏡 〔リンク〕

日立SU8000〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[087] 組織構造解析装置　バイオマテリアル用電子顕微鏡　透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕

日本電子 JEM-1400〔設置部局：医学系研究科〕

[088] 透過電子顕微鏡

H-7650(日立)〔設置部局：農学研究科〕

[089] 走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)　

SU8000(EDAX)(日立)〔設置部局：農学研究科〕

[097] 高分解能走査型電子顕微鏡

高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形(日立)〔設置部局：電気通信研究所〕

[099] 多種試料観察用走査電子顕微鏡システム

JSM-7800F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[111] イオンビーム加工解析装置

N-Vision40（Carl Zeiss Microscopy） トリプルビーム方式 〔設置部局：電気通信研究所〕

[130] 透過型電子顕微鏡（FE-TEM）

JEM-2100F（日本電子）〔設置部局：工学研究科〕

[131] 走査型電子顕微鏡・結晶方位解析（FE-SEM/EBSD)

JSM-7100F（日本電子）〔設置部局：工学研究科〕

[222] 共焦点・超解像顕微鏡システム 〔リンク〕

ニコン　超解像/共焦点顕微鏡Ｎ-ＳＩＭ+Ａ1セット〔設置部局：医学系研究科〕

[239] 超高分解能分析走査型電子顕微鏡　一式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ　SU-70形〔設置部局：工学研究科〕

[246] 日本電子(株)製 サーマル電界放出形走査電子顕微鏡 〔リンク〕

JEOL　JSM-7800F〔設置部局：工学研究科〕

[259] SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式 〔リンク〕

日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ･ナノテクノロジー)　　SMI500〔設置部局：工学研究科〕

[294] 分析走査電子顕微鏡

日本電子　JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）〔設置部局：金属材料研究所〕

[308] 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡

日立ハイテクノロジーズ　S-5200〔設置部局：流体科学研究所〕

[331] 走査型電子顕微鏡（FE-SEM） 〔リンク〕

日立ハイテク SU-70（EDS・EBSD付属）、S-3400N、IM-4000〔設置部局：未来科学技術共同研究センター〕

[337] 超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕

FEI　Titan G2 60-300型〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[384] Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム

FEI〔設置部局：工学研究科〕

[526] 分析走査電子顕微鏡

日本電子　JSM-IT200(A) 〔設置部局：金属材料研究所〕

[536] 走査電子顕微鏡（JSM-6390LA）

日本電子 JSM-6390LA〔設置部局：歯学研究科〕

[547] 分析走査電子顕微鏡

日本電子　JSM-6010PLUS/LA〔設置部局：金属材料研究所〕

[548] 分析透過電子顕微鏡 〔リンク〕

TOPCON EM-002B〔設置部局：金属材料研究所〕

[549] 透過電子顕微鏡 〔リンク〕

日本電子 JEM-2000EX II〔設置部局：金属材料研究所〕

[550] 原子分解能分析電子顕微鏡 〔リンク〕

日本電子 JEM-ARM200F〔設置部局：金属材料研究所〕

[562] 走査型電子顕微鏡SEM（JSM-7401F)

日本電子 JSM-7401F　[設置部局：電気通信研究所]

[639] 集束イオンビーム加工観察装置

日立ハイテク・FB2100〔設置部局：金属材料研究所〕

[641] 超高分解能電界放出形インレンズ走査電子顕微鏡

日立　S-5500形〔設置部局：理学研究科〕

[658] 生体高分子専用 透過型電子顕微鏡

日本電子　JEM-1400plus〔設置部局：生命科学研究科〕

[673]電子プローブマイクロアナライザー〔リンク〕

島津製作所　EPMA-1720HT〔設置部局：工学研究科〕

[674]電界放出型走査透過電子顕微鏡〔リンク〕

日立ハイテク　HD2700〔設置部局：工学研究科〕

[675]電界放出型走査電子顕微鏡〔リンク〕

日立ハイテク　S-4800〔設置部局：工学研究科〕

[676]低真空走査電子顕微鏡〔リンク〕

日立ハイテク　TM3000〔設置部局：工学研究科〕

[718] クライオ透過電子顕微鏡装置

JEM-3300〔設置部局:多元物質科学研究所〕

[723]クライオ電子顕微鏡装置 〔リンク〕

日本電子 JEM-3300 CRYOARM300Ⅱ　[設置部局：未来型医療創成センター（東北メディカル・メガバンク機構）]

[741] FE-SEM/EDS

日本電子 JSM7800, Oxford X-Max〔設置部局:材料科学高等研究所〕

[743] 卓上走査電子顕微鏡

日本電子 JCM-7000(EDS,ステージナビゲーションシステム含む)　〔設置部局:学術資源研究公開センター〕

[752] 集束イオンビーム加工装置 (Versa 3D) 〔リンク〕

Thermo Fisher Scientific〔設置部局:金属材料研究所〕

[751] 集束イオンビーム加工装置 (Quanta 3D) 〔リンク〕

Thermo Fisher Scientific〔設置部局:金属材料研究所〕