[029] 三次元微小構造解析システム 〔リンク〕

JEM-ARM200F(UHR)(日本電子)､ JIB-4600F(日本電子)〔設置部局：工学研究科〕

[056] 電子ビーム蛍光Ｘ線解析システム②

電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600(日立)〔設置部局：電気通信研究所〕

[057] 電子ビーム蛍光Ｘ線解析システム③

X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M(リガク)〔設置部局：電気通信研究所〕

[072] 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

JXA8530F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[085] サブオングストローム電子顕微鏡 〔リンク〕

FEI(株) Titan80-300〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[086] 低加速高分解能走査電子顕微鏡 〔リンク〕

日立SU8000〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[087] 組織構造解析装置　バイオマテリアル用電子顕微鏡　透過電子顕微鏡システム

JEM-1400(日本電子)〔設置部局：病院〕

[088] 透過電子顕微鏡

H-7650(日立)〔設置部局：農学研究科〕

[089] 走査電子顕微鏡(エネルギー分散型分析装置付)　

SU8000(EDAX)(日立)〔設置部局：農学研究科〕

[097] 高分解能走査型電子顕微鏡

高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形(日立)〔設置部局：電気通信研究所〕

[099] 多種試料観察用走査電子顕微鏡システム

JSM-7800F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[111] イオンビーム加工解析装置

N-Vision40（Carl Zeiss Microscopy） トリプルビーム方式 〔設置部局：電気通信研究所〕

[130] 透過型電子顕微鏡（FE-TEM）

JEM-2100F（日本電子）〔設置部局：工学研究科〕

[131] 走査型電子顕微鏡・結晶方位解析（FE-SEM/EBSD)

JSM-7100F（日本電子）〔設置部局：工学研究科〕

[193] ２光子励起顕微鏡システム

フェムト秒の繰り返し可能レーザーおよび共焦点機能（Leica Microsystems）〔設置部局：イノベーション戦略推進センター〕

[222] 共焦点・超解像顕微鏡システム 〔リンク〕

ニコン　超解像/共焦点顕微鏡Ｎ-ＳＩＭ+Ａ1セット〔設置部局：医学系研究科〕

[239] 超高分解能分析走査型電子顕微鏡　一式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ　SU-70形〔設置部局：工学研究科〕

[246] 日本電子(株)製 サーマル電界放出形走査電子顕微鏡 〔リンク〕

JEOL　JSM-7800F〔設置部局：工学研究科〕

[259] SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式 〔リンク〕

日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ･ナノテクノロジー)　　SMI500〔設置部局：工学研究科〕

[274] リアルサーフェスビュー顕微鏡　一式

キーエンス　VE-9800SP2079〔設置部局：工学研究科〕

[292] 原子分解能分析電子顕微鏡システム 〔リンク〕

日本電子　JEM-200F(HR)〔設置部局：金属材料研究所〕

[294] 分析走査電子顕微鏡

日本電子　JSM-6610A（OIM結晶方位解析装置含む）〔設置部局：金属材料研究所〕

[331] 走査型電子顕微鏡　1式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ　SU-70、S-3400N、EDX〔設置部局：未来科学技術共同研究センター〕

[337] 超高分解能収差補正型走査透過電子顕微鏡システム 〔リンク〕

FEI　Titan G2 60-300型〔設置部局：研究推進・支援機構〕

[355] 電界放射型走査電子顕微鏡付き集束イオンビーム装置 〔リンク〕

FIB/SEM装置本体 Helios NanoLab 600i,冷却水循環装置,無停電電源装置,コンプレッサー〔設置部局：金属材料研究所〕

[384] Helios600i FIB/SEMデュアルビームシステム

FEI〔設置部局：工学研究科〕

[526] 分析走査電子顕微鏡

日本電子　JSM-IT200(A) 〔設置部局：金属材料研究所〕