[068] 多目的Ｘ線結晶構造解析システム

SmartLab 3G(リガク)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[069] 多目的Ｘ線結晶構造解析システム

VariMax DW with IP(リガク)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[070] 微細加工システム　FIB/SEMデュアルビームシステム

FEI Electron Optics Helios600i〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[072] 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ

JXA8530F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[073] 多機能走査型Ｘ線光電子分光分析装置

PHI-5000 VersaProbe Ⅱ(アルバック･ファイ)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[074] 顕微可視赤外分光システム

NX-FLIM-TO 3(東京インスツルメンツ)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[099] 多種試料観察用走査電子顕微鏡システム

JSM-7800F(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕

[100] 多種試料観察用走査電子顕微鏡システム（クロスセクションポリッシング）

IB-09020 CP (クロスセクションポリッシャ)(日本電子)〔設置部局：産学連携先端材料研究開発センター〕