国立大学法人東北大学研究推進・支援機構 テクニカルサポートセンター 設備・機器利用システム

登録研究設備・機器

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研究設備・機器

電子顕微鏡・EPMA・FIB

[029] 三次元微小構造解析システム  〔リンク〕

JEM-ARM200F(UHR)(日本電子)、 JIB-4600F(日本電子)

[056] 電子ビーム蛍光X線解析システム②

電子ビーム蛍光X線元素分析装置(EPMA) SU6600(日立)

[057] 電子ビーム蛍光X線解析システム③

X線励起蛍光X線元素分析装置(XRF) Supermini-M(リガク)

[097] 高分解能走査型電子顕微鏡

高分解能走査型電子顕微鏡(STEM) SU8000 Type1形(日立)

[111] イオンビーム加工解析装置

N-Vision40(Carl Zeiss Microscopy) トリプルビーム方式

[130] 透過型電子顕微鏡(FE-TEM)

JEM-2100F(日本電子)

[193] 2光子励起顕微鏡システム

フェムト秒の繰り返し可能レーザーおよび共焦点機能(Leica Microsystems)

[222] 共焦点・超解像顕微鏡システム 〔リンク〕

ニコン 超解像/共焦点顕微鏡N-SIM+A1セット

[259] SMI500ナノ加工顕微鏡システム 一式 〔リンク〕

日立ハイテクサイエンス(エスアイアイ・ナノテクノロジー)  SMI500

[294] 分析走査電子顕微鏡

日本電子 JSM-6610A(OIM結晶方位解析装置含む)

[331] 走査型電子顕微鏡 1式 〔リンク〕

日立ハイテクノロジーズ SU-70、S-3400N、EDX

[355] 電界放射型走査電子顕微鏡付き集束イオンビーム装置 〔リンク〕

FIB/SEM装置本体 Helios NanoLab 600i,冷却水循環装置,無停電電源装置,コンプレッサー

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リンク

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